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光电检测技术及应用
周秀云等编著 著
更新时间：2018-12-27 18:32:57
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【正版无广】参考文献
本书共7章，理论与实践相结合，主要内容有：光电检测技术概述、光电检测常用光源、光电探测器、光电成像器件、非相干光电检测方法与系统、相干光电检测方法与系统、光电检测系统的典型应用。本书从几个实例出发，引出一般光电检测系统的基本结构组成，然后分章节从一般的光电系统的单元器件，介绍到学科方向较为前沿的现代光电检测技术均有系统的介绍。在结构体系上，本教材安排了较为流畅，学生易于理解的体系结构；在内容上，将理论与应用密切结合，并荟萃了许多近年来的光电检测技术的相关资料和科研成果。
- 【正版无广】参考文献 更新时间：2018-12-27 18:32:57
- 10.3.3 光电式血糖仪
- 10.3.2 生物芯片检测装置
- 10.3.1 生物芯片检测技术概述
- 10.3 光电检测技术在生物科学研究及医疗工程领域的应用
- 10.2.2 激光雷达
- 10.2.1 光电制导
- 10.2 光电检测技术在军事领域的应用
- 10.1.4 水质污染监测
- 10.1.3 大气中有害气体含量监测
- 10.1.2 大气质量中烟尘量检测
- 10.1.1 光谱测试技术基础
- 10.1 光电检测技术在环保科学研究及工程领域的应用
- 第10章 光电检测技术在其他方面的典型应用
- 习题与思考题
- 9.5.3 用CCD检测外圆直径
- 9.5.2 CCD钢板计数器
- 9.5.1 CCD传感器检测玻璃管外径和壁厚
- 9.5 CCD成像测量技术
- 9.4 工业CT（探伤）涡流成像系统
- 9.3.3 测量精度分析
- 9.3.2 同轴式高分辨率激光干涉轮廓仪测量形状误差分析
- 9.3.1 同轴式干涉轮廓仪工作原理
- 9.3 同轴式高分辨率激光轮廓仪
- 9.2.4 激光散射法
- 9.2.3 光纤传感器检测法
- 9.2.2 临界角法
- 9.2.1 光点变位法（三角法）
- 9.2 表面粗糙度测量仪
- 9.1.2 工作原理分析
- 9.1.1 双纵模双频激光干涉仪的组成
- 9.1 双频激光干涉仪
- 第9章 光电检测技术在机械领域的典型应用
- 习题与思考题
- 8.4.5 光外差检测方法与应用
- 8.4.4 光外差检测的调频方法
- 8.4.3 光外差检测条件
- 8.4.2 光外差检测的特性
- 8.4.1 光外差检测原理
- 8.4 光外差检测方法与系统
- 8.3.2 同频相干信号的检测方法
- 8.3.1 相位调制与检测的原理
- 8.3 同频率相干信号的相位调制与检测方法
- 8.2.3 光纤干涉仪
- 8.2.2 多光束干涉系统
- 8.2.1 典型的双光束干涉系统
- 8.2 基本干涉系统及应用
- 8.1.2 干涉测量技术中的调制和解调
- 8.1.1 光学干涉和干涉测量
- 8.1 相干检测的基本原理
- 第8章 相干检测方法与系统
- 习题与思考题
- 7.4.3 亮度中心检测法
- 7.4.2 几何中心检测法
- 7.4.1 光学目标和空间定位
- 7.4 空间分布的光电信号检测方法与系统
- 7.3.3 相位和时间测量法
- 7.3.2 频率法
- 7.3.1 幅值法
- 7.3 随时间变化的光电信号检测方法及系统
- 7.2.2 直接检测系统的基本特性
- 7.2.1 直接检测系统的基本原理
- 7.2 直接检测系统
- 7.1 光电信号变换及光电检测系统分类概述
- 第7章 非相干检测方法与系统
- 习题与思考题
- 6.4.2 SSPD面阵列
- 6.4.1 SSPD线阵列
- 6.4 自扫描光电二极管阵列
- 6.3.3 电荷耦合摄像器件（ICCD）
- 6.3.2 电荷耦合器件的特性参数
- 6.3.1 电荷耦合器件工作原理
- 6.3 电荷耦合器件（CCD）
- 6.2.4 光电发射式摄像管
- 6.2.3 光电导式摄像管
- 6.2.2 摄像管的性能参数
- 6.2.1 摄像管的基本原理
- 6.2 真空摄像管
- 6.1.3 光电成像器件的基本特性
- 6.1.2 成像原理
- 6.1.1 光电成像器件的类型
- 6.1 光电成像器件概述
- 第6章 光电成像器件
- 习题与思考题
- 5.4.3 光电检测器件的应用选择
- 5.4.2 各种光电探测器件的性能比较
- 5.4.1 接收光信号的方式
- 5.4 各种光电探测器件的性能比较和应用选择
- 5.3.5 光电倍增管的应用
- 5.3.4 微通道板光电倍增管
- 5.3.3 光电倍增管的供电和信号输出电路
- 5.3.2 光电倍增管的主要特性参数
- 5.3.1 光电倍增管的结构
- 5.3 光电倍增管
- 5.2 光电管
- 5.1 光电发射（外光电）效应
- 第5章 光电发射器件
- 习题与思考题
- 4.4.5 光电二极管和三极管的应用
- 4.4.4 光电二极管和三极管的偏置电路
- 4.4.3 硅光电二极管与硅光电三极管特性比较
- 4.4.2 硅光电三极管结构及工作原理（又称光电晶体管）
- 4.4.1 硅光电二极管结构及工作原理
- 4.4 硅光电二极管和硅光电三极管
- 4.3.4 光电池的应用
- 4.3.3 光电池偏置电路
- 4.3.2 硅光电池的特性参数
- 4.3.1 硅光电池的基本结构和工作原理
- 4.3 光电池
- 4.2 光伏探测器的工作模式
- 4.1 光伏特效应
- 第4章 光伏特探测器
- 习题与思考题
- 3.3.2 光敏电阻
- 3.3.1 光电导效应
- 3.3 光电导探测器
- 3.2.7 其他参数
- 3.2.6 探测器噪声
- 3.2.5 线性度
- 3.2.4 噪声等效功率NEP和探测率D*
- 3.2.3 响应时间
- 3.2.2 灵敏度
- 3.2.1 量子效率
- 3.2 光电探测器的特性参数
- 3.1.2 光电转换定律
- 3.1.1 光电效应和光热效应
- 3.1 光探测器的物理基础
- 第3章 光电探测器概述及光电导探测器
- 习题与思考题
- 2.3.4 激光器
- 2.3.3 固体发光光源
- 2.3.2 气体放电光源
- 2.3.1 热辐射光源
- 2.3 光电检测常用光源
- 2.2.5 光源的颜色
- 2.2.4 光源的色温
- 2.2.3 空间光强分布
- 2.2.2 光谱功率分布
- 2.2.1 辐射效率和发光效率
- 2.2 光源的基本特性参数
- 2.1.2 光源分类
- 2.1.1 光的本质及产生
- 2.1 光的产生及光源分类
- 第2章 光电检测用光源
- 习题与思考题
- 1.3 光电检测技术的发展
- 1.2.3 光电检测系统的基本结构形式
- 1.2.2 光电检测系统的基本工作原理
- 1.2.1 光电检测系统的基本构成
- 1.2 光电检测系统的基本构成和工作原理
- 1.1 引言
- 第1章 概述
- 前言
- 版权信息
- 封面
- 封面
- 版权信息
- 前言
- 第1章 概述
- 1.1 引言
- 1.2 光电检测系统的基本构成和工作原理
- 1.2.1 光电检测系统的基本构成
- 1.2.2 光电检测系统的基本工作原理
- 1.2.3 光电检测系统的基本结构形式
- 1.3 光电检测技术的发展
- 习题与思考题
- 第2章 光电检测用光源
- 2.1 光的产生及光源分类
- 2.1.1 光的本质及产生
- 2.1.2 光源分类
- 2.2 光源的基本特性参数
- 2.2.1 辐射效率和发光效率
- 2.2.2 光谱功率分布
- 2.2.3 空间光强分布
- 2.2.4 光源的色温
- 2.2.5 光源的颜色
- 2.3 光电检测常用光源
- 2.3.1 热辐射光源
- 2.3.2 气体放电光源
- 2.3.3 固体发光光源
- 2.3.4 激光器
- 习题与思考题
- 第3章 光电探测器概述及光电导探测器
- 3.1 光探测器的物理基础
- 3.1.1 光电效应和光热效应
- 3.1.2 光电转换定律
- 3.2 光电探测器的特性参数
- 3.2.1 量子效率
- 3.2.2 灵敏度
- 3.2.3 响应时间
- 3.2.4 噪声等效功率NEP和探测率D*
- 3.2.5 线性度
- 3.2.6 探测器噪声
- 3.2.7 其他参数
- 3.3 光电导探测器
- 3.3.1 光电导效应
- 3.3.2 光敏电阻
- 习题与思考题
- 第4章 光伏特探测器
- 4.1 光伏特效应
- 4.2 光伏探测器的工作模式
- 4.3 光电池
- 4.3.1 硅光电池的基本结构和工作原理
- 4.3.2 硅光电池的特性参数
- 4.3.3 光电池偏置电路
- 4.3.4 光电池的应用
- 4.4 硅光电二极管和硅光电三极管
- 4.4.1 硅光电二极管结构及工作原理
- 4.4.2 硅光电三极管结构及工作原理（又称光电晶体管）
- 4.4.3 硅光电二极管与硅光电三极管特性比较
- 4.4.4 光电二极管和三极管的偏置电路
- 4.4.5 光电二极管和三极管的应用
- 习题与思考题
- 第5章 光电发射器件
- 5.1 光电发射（外光电）效应
- 5.2 光电管
- 5.3 光电倍增管
- 5.3.1 光电倍增管的结构
- 5.3.2 光电倍增管的主要特性参数
- 5.3.3 光电倍增管的供电和信号输出电路
- 5.3.4 微通道板光电倍增管
- 5.3.5 光电倍增管的应用
- 5.4 各种光电探测器件的性能比较和应用选择
- 5.4.1 接收光信号的方式
- 5.4.2 各种光电探测器件的性能比较
- 5.4.3 光电检测器件的应用选择
- 习题与思考题
- 第6章 光电成像器件
- 6.1 光电成像器件概述
- 6.1.1 光电成像器件的类型
- 6.1.2 成像原理
- 6.1.3 光电成像器件的基本特性
- 6.2 真空摄像管
- 6.2.1 摄像管的基本原理
- 6.2.2 摄像管的性能参数
- 6.2.3 光电导式摄像管
- 6.2.4 光电发射式摄像管
- 6.3 电荷耦合器件（CCD）
- 6.3.1 电荷耦合器件工作原理
- 6.3.2 电荷耦合器件的特性参数
- 6.3.3 电荷耦合摄像器件（ICCD）
- 6.4 自扫描光电二极管阵列
- 6.4.1 SSPD线阵列
- 6.4.2 SSPD面阵列
- 习题与思考题
- 第7章 非相干检测方法与系统
- 7.1 光电信号变换及光电检测系统分类概述
- 7.2 直接检测系统
- 7.2.1 直接检测系统的基本原理
- 7.2.2 直接检测系统的基本特性
- 7.3 随时间变化的光电信号检测方法及系统
- 7.3.1 幅值法
- 7.3.2 频率法
- 7.3.3 相位和时间测量法
- 7.4 空间分布的光电信号检测方法与系统
- 7.4.1 光学目标和空间定位
- 7.4.2 几何中心检测法
- 7.4.3 亮度中心检测法
- 习题与思考题
- 第8章 相干检测方法与系统
- 8.1 相干检测的基本原理
- 8.1.1 光学干涉和干涉测量
- 8.1.2 干涉测量技术中的调制和解调
- 8.2 基本干涉系统及应用
- 8.2.1 典型的双光束干涉系统
- 8.2.2 多光束干涉系统
- 8.2.3 光纤干涉仪
- 8.3 同频率相干信号的相位调制与检测方法
- 8.3.1 相位调制与检测的原理
- 8.3.2 同频相干信号的检测方法
- 8.4 光外差检测方法与系统
- 8.4.1 光外差检测原理
- 8.4.2 光外差检测的特性
- 8.4.3 光外差检测条件
- 8.4.4 光外差检测的调频方法
- 8.4.5 光外差检测方法与应用
- 习题与思考题
- 第9章 光电检测技术在机械领域的典型应用
- 9.1 双频激光干涉仪
- 9.1.1 双纵模双频激光干涉仪的组成
- 9.1.2 工作原理分析
- 9.2 表面粗糙度测量仪
- 9.2.1 光点变位法（三角法）
- 9.2.2 临界角法
- 9.2.3 光纤传感器检测法
- 9.2.4 激光散射法
- 9.3 同轴式高分辨率激光轮廓仪
- 9.3.1 同轴式干涉轮廓仪工作原理
- 9.3.2 同轴式高分辨率激光干涉轮廓仪测量形状误差分析
- 9.3.3 测量精度分析
- 9.4 工业CT（探伤）涡流成像系统
- 9.5 CCD成像测量技术
- 9.5.1 CCD传感器检测玻璃管外径和壁厚
- 9.5.2 CCD钢板计数器
- 9.5.3 用CCD检测外圆直径
- 习题与思考题
- 第10章 光电检测技术在其他方面的典型应用
- 10.1 光电检测技术在环保科学研究及工程领域的应用
- 10.1.1 光谱测试技术基础
- 10.1.2 大气质量中烟尘量检测
- 10.1.3 大气中有害气体含量监测
- 10.1.4 水质污染监测
- 10.2 光电检测技术在军事领域的应用
- 10.2.1 光电制导
- 10.2.2 激光雷达
- 10.3 光电检测技术在生物科学研究及医疗工程领域的应用
- 10.3.1 生物芯片检测技术概述
- 10.3.2 生物芯片检测装置
- 10.3.3 光电式血糖仪
- 【正版无广】参考文献 更新时间：2018-12-27 18:32:57
